キーワード: atom probe tomography

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66_MT-D2024005.pdf
Characterization of δNi<sub>2</sub>Si Precipitates in Cu-Ni-Si Alloy by Small-Angle X-ray Scattering, Small-Angle Neutron Scattering, and Atom Probe Tomography
ジャーナル論文
著者
Hirokazu Sasaki (author) (この著者で検索)
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Syunta Akiya (author) (この著者で検索)
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Kuniteru Mihara (author) (この著者で検索)
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Yojiro Oba (author) (この著者で検索)
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Masato Onuma (author) (この著者で検索)
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
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Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography
刊行年月日
2025-01-01
更新時刻
2025-01-08 16:31:18 +0900

X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法によるCu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析.pdf
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析
ジャーナル論文
著者
佐々木 宏和 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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秋谷 俊太 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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三原 邦照 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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大場 洋次郎 (author) (この著者で検索)
豊橋技術科学大学
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大沼 正人 (author) (この著者で検索)
北海道大学
; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography, transmission electron microscopy, Corson alloy
刊行年月日
更新時刻
2024-01-30 09:51:05 +0900

SAXS・SANS及びAPTによるSi量の異なるCu-Ni-Si合金中の析出相の解析.pdf
SAXS・SANS及びAPTによるSi量の異なるCu-Ni-Si合金中の析出相の解析
ジャーナル論文
著者
佐々木 宏和 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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大場 洋次郎 (author) (この著者で検索)
豊橋技術科学大学
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廣井 孝介 (author) (この著者で検索)
日本原子力研究開発機構
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大沼 正人 (author) (この著者で検索)
北海道大学
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埋橋 淳 (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
大久保 忠勝 (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography
刊行年月日
更新時刻
2025-11-28 16:30:03 +0900

Atomic Diffusion of Indium through Threading Dislocations in InGaN Quantum Wells.pdf
Atomic Diffusion of Indium through Threading Dislocations in InGaN Quantum Wells
ジャーナル論文
著者
Yudai Yamaguchi (author) (この著者で検索)
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Yuya Kanitani (author) (この著者で検索)
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Yoshihiro Kudo (author) (この著者で検索)
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
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Kazuhiro Hono (author) (この著者で検索)
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Shigetaka Tomiya (author) (この著者で検索)
キーワード
InGaN, dislocation, pipe diffusion, atom probe tomography, transmission electron microscopy
刊行年月日
2022-09-14
更新時刻
2024-01-05 22:12:51 +0900

Development of p-type Ion Implantation Technique for Realization of GaN Vertical MOSFETs.pdf
Development of p-type Ion Implantation Technique for Realization of GaN Vertical MOSFETs
プロシーディングス論文
著者
Ryo Tanaka (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
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Shinya Takashima (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
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Katsunori Ueno (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
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Masahiro Horita (author) (この著者で検索)
Nagoya Univ.
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Jun Suda (author) (この著者で検索)
Nagoya Univ.
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
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Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
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Masaharu Edo (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
キーワード
gallium nitride, atom probe tomography, transmission electron microscopy
刊行年月日
2023-06-08
更新時刻
2024-04-19 12:30:23 +0900

Physica Rapid Research Ltrs - 2024 - Kano - Impact of Sequential N Ion Implantation on Extended Defects and Mg Distribution.pdf
Impact of Sequential N Ion Implantation on Extended Defects and Mg Distribution in Mg Ion‐Implanted GaN
ジャーナル論文
著者
Emi Kano (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
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Koki Kobayashi (author) (この著者で検索)
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Kosuke Ishikawa (author) (この著者で検索)
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Kyosuke Sawabe (author) (この著者で検索)
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Tetsuo Narita (author) (この著者で検索)
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Kacper Sierakowski (author) (この著者で検索)
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Michal Bockowski (author) (この著者で検索)
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Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
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Tetsu Kachi (author) (この著者で検索)
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Nobuyuki Ikarashi (author) (この著者で検索)
ORCID
キーワード
gallium nitride, atom probe tomography, transmission electron microscopy
刊行年月日
2024-04-22
更新時刻
2024-09-20 16:30:27 +0900

Effect of sequential N ion implantation in the formation of a shallow Mg-implanted p-type GaN layer.pdf
Effect of sequential N ion implantation in the formation of a shallow Mg-implanted p-type GaN layer
ジャーナル論文
著者
Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Magnetic and Spintronic Materials/Administrative Office
ORCID SAMURAI ;
Jun Chen (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Optical Materials Field/Semiconductor Defect Design Group
ORCID SAMURAI ;
Ryo Tanaka (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Corporation
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Shinya Takashima (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Corporation
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Masaharu Edo (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Corporation
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Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Magnetic and Spintronic Materials
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Takashi Sekiguchi (author) (この著者で検索)
University of Tsukuba
キーワード
gallium nitride, atom probe tomography, transmission electron microscopy, cathodoluminescence
刊行年月日
2024-08-07
更新時刻
2024-08-03 08:30:15 +0900

Atomic-scale investigation of implanted Mg in GaN through ultra-high-pressure annealing.pdf
Atomic-scale investigation of implanted Mg in GaN through ultra-high-pressure annealing
ジャーナル論文
著者
Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
Jun Chen (author) (この著者で検索)
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Ashutosh Kumar (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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Wei Yi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
Ryo Tanaka (author) (この著者で検索)
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Shinya Takashima (author) (この著者で検索)
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Masaharu Edo (author) (この著者で検索)
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Kacper Sierakowski (author) (この著者で検索)
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Michal Bockowski (author) (この著者で検索)
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Hideki Sakurai (author) (この著者で検索)
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Tetsu Kachi (author) (この著者で検索)
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Takashi Sekiguchi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Kazuhiro Hono (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI
キーワード
gallium nitride, implantation, atom probe tomography, cathodoluminescence, scanning transmission electron microscopy
刊行年月日
2022-05-14
更新時刻
2024-01-05 22:11:22 +0900

Mechanistic Insight into the Effect of Cu Doping on Thermoelectric Properties of Sintered Wet-Chemically Synthesised SnSe2 Nanosheets.pdf
Mechanistic Insight into the Effect of Cu Doping on Thermoelectric Properties of Sintered Wet-Chemically Synthesized SnSe2 Nanosheets
ジャーナル論文
著者
Simon Moore (author) (この著者で検索)
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Mari Takahashi (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Philipp Sauerschnig (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Keiji Kobayashi (author) (この著者で検索)
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Koichi Higashimine (author) (この著者で検索)
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Masanobu Miyata (author) (この著者で検索)
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Takahiro Baba (author) (この著者で検索)
; ORCID SAMURAI ;
Michihiro Ohta (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Shinya Maenosono (author) (この著者で検索)
ORCID
キーワード
thermoelectric materials, electron microscopy, atom probe tomography
刊行年月日
2024-09-09
更新時刻
2025-08-26 08:30:23 +0900