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SAXS・SANS及びAPTによるSi量の異なるCu-Ni-Si合金中の析出相の解析
- ジャーナル論文
- 著者
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;佐々木 宏和 (author) (この著者で検索)古河電気工業株式会社;大場 洋次郎 (author) (この著者で検索)豊橋技術科学大学;廣井 孝介 (author) (この著者で検索)日本原子力研究開発機構;大沼 正人 (author) (この著者で検索)北海道大学埋橋 淳 (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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大久保 忠勝 (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- atom probe tomography
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2025-11-28 16:30:03 +0900
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析
- ジャーナル論文
- 著者
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;佐々木 宏和 (author) (この著者で検索)古河電気工業株式会社;秋谷 俊太 (author) (この著者で検索)古河電気工業株式会社;三原 邦照 (author) (この著者で検索)古河電気工業株式会社;大場 洋次郎 (author) (この著者で検索)豊橋技術科学大学;大沼 正人 (author) (この著者で検索)北海道大学埋橋 淳 (author) (この著者で検索)
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大久保 忠勝 (author) (この著者で検索)
- キーワード
- atom probe tomography, transmission electron microscopy, Corson alloy
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2024-01-30 09:51:05 +0900