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Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy, Quantitative Evaluation of the Surface Roughness Caused by Ion Sputtering
- ジャーナル論文
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
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TANUMA, Shigeo (author) (この著者で検索)
- キーワード
- depth resolution function, InP/GaInAsP multilayer specimens, Auger depth profiling analysis, surface roughness, atomic force microscope
- 刊行年月日
- 2011-06-10
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:24:02 +0900
Auger Depth Profiling Analyses of InP/GaInAsP Multilayers
- ジャーナル論文
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
;
TANUMA, Shigeo (author) (この著者で検索)
- キーワード
- argon ion sputtering, InP/GaInAsP multilayer specimens, Auger depth profiling analysis
- 刊行年月日
- 2011-06-10
- 更新時刻
- 2022-10-03 02:01:29 +0900
Auger Depth Profile Analysis of GaAs/AIAs Thin Film by Synthesized Spectrum Method Using Non-Negative Least Square Curve Fitting
- ジャーナル論文
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
;
TANUMA, Shigeo (author) (この著者で検索)
- キーワード
- peak separation, non-negative least-square curve fit, Auger depth profiling analysis, GaAs/AlAs multilayer
- 刊行年月日
- 2011-06-10
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:51:43 +0900
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayer Structure with Auger Electron Spectroscopy by Using Argon Ion Spot Beam
- ジャーナル論文
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
;
;HARADA, Tomoko (author) (この著者で検索)TANUMA, Shigeo (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayer Specimen, Argon Ion Spot Beam
- 刊行年月日
- 2011-06-10
- 更新時刻
- 2022-10-03 02:04:45 +0900
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy. Effects of Zalar Rotation and Liquid Nitrogen Cold Stage
- ジャーナル論文
- 著者
-
Ogiwara, Toshiya (author) (この著者で検索)
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Tanuma, Shigeo (author) (この著者で検索)
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;Nagasawa, Yuji (author) (この著者で検索)Ikeo, Nobuyuki (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayers, Zalar Rotation Method, Sample Cooling Method
- 刊行年月日
- 2011-06-10
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:53:08 +0900
Ultra High Depth Resolution Auger Depth Profiling by Both Electron and Ion Beams at the Glancing Incidence using an Inclined Specimen Holder
- ジャーナル論文
- 著者
-
Ogiwara, Toshiya (author) (この著者で検索)
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Nagatomi, Takaharu (author) (この著者で検索)
https://orcid.org/0000-0002-3629-638X
(unauthenticated)
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Kim, Kyung Joong (author) (この著者で検索)
https://orcid.org/0000-0001-5559-9784
(unauthenticated)
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Tanuma, Shigeo (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Auger Depth Profiling Analysis, Si/Ge multiple delta-doped layers, GaAs/AlAs Superlattice, Inclined Holder
- 刊行年月日
- 2011-10-24
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:14:10 +0900
Emergent dynamics of neuromorphic nanowire networks
- ジャーナル論文
- 著者
-
;Marcus, Ido (author) (この著者で検索);Gimzewski, James K. (author) (この著者で検索);Stieg, Adam Z. (author) (この著者で検索)Higuchi, Rintaro (author) (この著者で検索)
https://orcid.org/0000-0003-0859-0079
(unauthenticated)
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Shingaya, Yoshitaka (author) (この著者で検索)
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;Kuncic, Zdenka (author) (この著者で検索)Diaz-Alvarez, Adrian (author) (この著者で検索)
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Nakayama, Tomonobu (author) (この著者で検索)
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Sanz-Leon, Paula (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Nanowire, Memory, Neuromorphic computing, Neuromorphic network, Topology, Emergent dynamics, Silver nanowire
- 刊行年月日
- 2019-10-17
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:33 +0900
IoT データ収集システムのデータアーキテクチャ
- ジャーナル論文
- コレクション
- The history of DICE and NIMS Digital Library
- 著者
-
MATSUNAMI, Shigeyuki (author) (この著者で検索)
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MATSUDA, Asahiko (author) (この著者で検索)
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CHIKYOW, Toyohiro (author) (この著者で検索)
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HARADA, Yoshitomo (author) (この著者で検索)
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
- キーワード
- メタデータ, XML スキーマ, IoT, データ収集システム, データアーキテクチャ
- 刊行年月日
- 2021-04-15
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:51:57 +0900
材料データプラットフォームシステムDICEにおける研究データフローの構築―実践と課題
- ジャーナル論文
- コレクション
- The history of DICE and NIMS Digital Library
- 著者
-
TANIFUJI, Mikiko (author) (この著者で検索)
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
- キーワード
- 研究データ, マテリアル・インフォマティクス, メタデータスキーマ, データフロー, 相互利用 FAIR, 材料データプラットフォーム DICE, データ リポジトリ
- 刊行年月日
- 2021-04-15
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:48:19 +0900