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Figures.pdf
Calculation of Electron Inelastic Mean Free Paths (IMFPs). VII. Reliability of the TPP-2M IMFP Predictive Equation
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
Powell, C. J. (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Penn, D. R. (author) (この著者で検索)
キーワード
IMFP, TPP-2M, number of valence electrons, elemental solids, XPS, electron inelastic mean free paths, surface sensitivity, IMFPs, AES, surface analysis
刊行年月日
2003-02-11
更新時刻
2022-10-03 01:54:38 +0900
05_Tanuma_EPES_T_F.pdf
Experimental Determination of Electron Inelastic Mean Free Paths in 13 Elemental Solids in the 50 eV to 5000 eV Energy Range by Elastic-Peak Electron Spectroscopy
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
Shiratori, T (author) (この著者で検索)
;
Kimura, Takashi (author) (この著者で検索)
;
Goto, Keisuke (author) (この著者で検索)
;
Ichimura, Shingo (author) (この著者で検索)
;
Powell, Cedric J (author) (この著者で検索)
キーワード
Monte Carlo simulation, electron inelastic mean free paths, experimental determination, elastic- peak electron spectroscopy
刊行年月日
2005-10-31
更新時刻
2024-01-05 22:13:04 +0900
表面科学_17_1996_758.pdf
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy, Quantitative Evaluation of the Surface Roughness Caused by Ion Sputtering
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
depth resolution function, InP/GaInAsP multilayer specimens, Auger depth profiling analysis, surface roughness, atomic force microscope
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:24:02 +0900
表面科学_17_1996_38.pdf
Auger Depth Profiling Analyses of InP/GaInAsP Multilayers
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
argon ion sputtering, InP/GaInAsP multilayer specimens, Auger depth profiling analysis
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 02:01:29 +0900
表面科学_13_1992_606.pdf
Auger Depth Profile Analysis of GaAs/AIAs Thin Film by Synthesized Spectrum Method Using Non-Negative Least Square Curve Fitting
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
peak separation, non-negative least-square curve fit, Auger depth profiling analysis, GaAs/AlAs multilayer
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:51:43 +0900
表面科学_13_1992_595.pdf
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayer Structure with Auger Electron Spectroscopy by Using Argon Ion Spot Beam
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
HARADA, Tomoko (author) (この著者で検索)
; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayer Specimen, Argon Ion Spot Beam
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 02:04:45 +0900
表面科学_13_1992_472.pdf
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy. Effects of Zalar Rotation and Liquid Nitrogen Cold Stage
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Nagasawa, Yuji (author) (この著者で検索)
;
Ikeo, Nobuyuki (author) (この著者で検索)
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayers, Zalar Rotation Method, Sample Cooling Method
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:53:08 +0900
表面科学_32_2011_664.pdf
Ultra High Depth Resolution Auger Depth Profiling by Both Electron and Ion Beams at the Glancing Incidence using an Inclined Specimen Holder
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
Nagatomi, Takaharu (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Kim, Kyung Joong (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, Si/Ge multiple delta-doped layers, GaAs/AlAs Superlattice, Inclined Holder
刊行年月日
2011-10-24
更新時刻
2024-01-05 22:14:10 +0900
2019_Adrian_ScientificReports_s41598-019-51330-6.pdf
Emergent dynamics of neuromorphic nanowire networks
ジャーナル論文
著者
Marcus, Ido (author) (この著者で検索)
;
Gimzewski, James K. (author) (この著者で検索)
;
Stieg, Adam Z. (author) (この著者で検索)
;
Higuchi, Rintaro (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI ;
Kuncic, Zdenka (author) (この著者で検索)
; ORCID ; ORCID SAMURAI ;
Sanz-Leon, Paula (author) (この著者で検索)
キーワード
Nanowire, Memory, Neuromorphic computing, Neuromorphic network, Topology, Emergent dynamics, Silver nanowire
刊行年月日
2019-10-17
更新時刻
2024-01-05 22:13:33 +0900
IPSJ-TDP0202008.pdf
IoT データ収集システムのデータアーキテクチャ
ジャーナル論文
コレクション
The history of DICE and NIMS Digital Library
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID ; ORCID SAMURAI
キーワード
メタデータ, XML スキーマ, IoT, データ収集システム, データアーキテクチャ
刊行年月日
2021-04-15
更新時刻
2022-10-03 01:51:57 +0900
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