キーワード: atom probe tomography

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Atomic Diffusion of Indium through Threading Dislocations in InGaN Quantum Wells.pdf
Atomic Diffusion of Indium through Threading Dislocations in InGaN Quantum Wells
ジャーナル論文
著者
Yudai Yamaguchi (author) (この著者で検索)
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Yuya Kanitani (author) (この著者で検索)
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Yoshihiro Kudo (author) (この著者で検索)
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
Kazuhiro Hono (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
Shigetaka Tomiya (author) (この著者で検索)
キーワード
InGaN, dislocation, pipe diffusion, atom probe tomography, transmission electron microscopy
刊行年月日
2022-09-14
更新時刻
2024-01-05 22:12:51 +0900

66_MT-D2024005.pdf
Characterization of δNi<sub>2</sub>Si Precipitates in Cu-Ni-Si Alloy by Small-Angle X-ray Scattering, Small-Angle Neutron Scattering, and Atom Probe Tomography
ジャーナル論文
著者
Hirokazu Sasaki (author) (この著者で検索)
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Syunta Akiya (author) (この著者で検索)
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Kuniteru Mihara (author) (この著者で検索)
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Yojiro Oba (author) (この著者で検索)
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Masato Onuma (author) (この著者で検索)
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI ;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography
刊行年月日
2025-01-01
更新時刻
2025-01-08 16:31:18 +0900

X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法によるCu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析.pdf
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析
ジャーナル論文
著者
佐々木 宏和 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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秋谷 俊太 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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三原 邦照 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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大場 洋次郎 (author) (この著者で検索)
豊橋技術科学大学
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大沼 正人 (author) (この著者で検索)
北海道大学
; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography, transmission electron microscopy, Corson alloy
刊行年月日
更新時刻
2024-01-30 09:51:05 +0900

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