キーワード: atom probe tomography
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Development of p-type Ion Implantation Technique for Realization of GaN Vertical MOSFETs.pdf
Development of p-type Ion Implantation Technique for Realization of GaN Vertical MOSFETs
プロシーディングス論文
著者
Ryo Tanaka (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
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Shinya Takashima (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
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Katsunori Ueno (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
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Masahiro Horita (author) (この著者で検索)
Nagoya Univ.
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Jun Suda (author) (この著者で検索)
Nagoya Univ.
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Masaharu Edo (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Co., Ltd.
キーワード
gallium nitride, atom probe tomography, transmission electron microscopy
刊行年月日
2023-06-08
更新時刻
2024-04-19 12:30:23 +0900
An Automated Site-Specific Tip Preparation Method for Atom Probe Tomography Using Script-Controlled Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy.pdf
An Automated Site-Specific Tip Preparation Method for Atom Probe Tomography Using Script-Controlled Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography, focused ion beam, scanning electron microscopy
刊行年月日
2025-02-03
更新時刻
2024-09-05 08:30:18 +0900
Effect of sequential N ion implantation in the formation of a shallow Mg-implanted p-type GaN layer.pdf
Effect of sequential N ion implantation in the formation of a shallow Mg-implanted p-type GaN layer
ジャーナル論文
著者
Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Magnetic and Spintronic Materials/Administrative Office
ORCID SAMURAI ;
Jun Chen (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Optical Materials Field/Semiconductor Defect Design Group
ORCID SAMURAI ;
Ryo Tanaka (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Corporation
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Shinya Takashima (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Corporation
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Masaharu Edo (author) (この著者で検索)
Fuji Electric Corporation
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Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Magnetic and Spintronic Materials
ORCID SAMURAI ;
Takashi Sekiguchi (author) (この著者で検索)
University of Tsukuba
キーワード
gallium nitride, atom probe tomography, transmission electron microscopy, cathodoluminescence
刊行年月日
2024-08-07
更新時刻
2024-08-03 08:30:15 +0900
Atomic-scale investigation of implanted Mg in GaN through ultra-high-pressure annealing.pdf
Atomic-scale investigation of implanted Mg in GaN through ultra-high-pressure annealing
ジャーナル論文
著者
Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Jun Chen (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Ashutosh Kumar (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Wei Yi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Ryo Tanaka (author) (この著者で検索)
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Shinya Takashima (author) (この著者で検索)
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Masaharu Edo (author) (この著者で検索)
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Kacper Sierakowski (author) (この著者で検索)
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Michal Bockowski (author) (この著者で検索)
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Hideki Sakurai (author) (この著者で検索)
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Tetsu Kachi (author) (この著者で検索)
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Takashi Sekiguchi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Kazuhiro Hono (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
gallium nitride, implantation, atom probe tomography, cathodoluminescence, scanning transmission electron microscopy
刊行年月日
2022-05-14
更新時刻
2024-01-05 22:11:22 +0900
SAXS・SANS及びAPTによるSi量の異なるCu-Ni-Si合金中の析出相の解析.pdf
SAXS・SANS及びAPTによるSi量の異なるCu-Ni-Si合金中の析出相の解析
ジャーナル論文
著者
佐々木 宏和 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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大場 洋次郎 (author) (この著者で検索)
豊橋技術科学大学
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廣井 孝介 (author) (この著者で検索)
日本原子力研究開発機構
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大沼 正人 (author) (この著者で検索)
北海道大学
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埋橋 淳 (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
大久保 忠勝 (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography
刊行年月日
更新時刻
2025-11-28 16:30:03 +0900
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法によるCu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析.pdf
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析
ジャーナル論文
著者
佐々木 宏和 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
;
秋谷 俊太 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
;
三原 邦照 (author) (この著者で検索)
古河電気工業株式会社
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大場 洋次郎 (author) (この著者で検索)
豊橋技術科学大学
;
大沼 正人 (author) (この著者で検索)
北海道大学
; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
atom probe tomography, transmission electron microscopy, Corson alloy
刊行年月日
更新時刻
2024-01-30 09:51:05 +0900
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