ファイル種別: application/pdf キーワード: atom probe tomography
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Development of p-type Ion Implantation Technique for Realization of GaN Vertical MOSFETs.pdf
Development of p-type Ion Implantation Technique for Realization of GaN Vertical MOSFETs
プロシーディングス
著者
Ryo Tanaka ; Shinya Takashima ; Katsunori Ueno ; Masahiro Horita ; Jun Suda ; Jun Uzuhashi SAMURAI ORCID ; Tadakatsu Ohkubo SAMURAI ORCID ; Masaharu Edo
キーワード
gallium nitride, atom probe tomography, transmission electron microscopy
刊行年月日
2023-06-08
更新時刻
2024-04-19 12:30:23 +0900
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法によるCu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析.pdf
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析
論文
著者
佐々木 宏和 ; 秋谷 俊太 ; 三原 邦照 ; 大場 洋次郎 ; 大沼 正人 ; 埋橋 淳 SAMURAI ORCID ; 大久保 忠勝 SAMURAI ORCID
キーワード
atom probe tomography, transmission electron microscopy, Corson alloy
刊行年月日
更新時刻
2024-01-30 09:51:05 +0900
Atomic resolution analysis of extended defects and Mg agglomeration in Mg-ion-implanted GaN and their impacts on acceptor formation.pdf
Atomic resolution analysis of extended defects and Mg agglomeration in Mg-ion-implanted GaN and their impacts on acceptor formation
論文
著者
Emi Kano ; Keita Kataoka ; Jun Uzuhashi SAMURAI ORCID ; Kenta Chokawa ; Hideki Sakurai ; Akira Uedono ; Tetsuo Narita ; Kacper Sierakowski ; Michal Bockowski ; Ritsuo Otsuki ; Koki Kobayashi ; Yuta Itoh ; Masahiro Nagao ; Tadakatsu Ohkubo SAMURAI ORCID ; Kazuhiro Hono SAMURAI ORCID ; Jun Suda ; Tetsu Kachi ; Nobuyuki Ikarashi
キーワード
gallium nitride, transmission electron microscopy, atom probe tomography
刊行年月日
2022-08-14
更新時刻
2024-01-05 22:13:58 +0900
Atomic Diffusion of Indium through Threading Dislocations in InGaN Quantum Wells.pdf
Atomic Diffusion of Indium through Threading Dislocations in InGaN Quantum Wells
論文
著者
Yudai Yamaguchi ; Yuya Kanitani ; Yoshihiro Kudo ; Jun Uzuhashi SAMURAI ORCID ; Tadakatsu Ohkubo SAMURAI ORCID ; Kazuhiro Hono SAMURAI ORCID ; Shigetaka Tomiya
キーワード
InGaN, dislocation, pipe diffusion, atom probe tomography, transmission electron microscopy
刊行年月日
2022-09-14
更新時刻
2024-01-05 22:12:51 +0900
Atomic-scale investigation of implanted Mg in GaN through ultra-high-pressure annealing.pdf
Atomic-scale investigation of implanted Mg in GaN through ultra-high-pressure annealing
論文
著者
Jun Uzuhashi SAMURAI ORCID ; Jun Chen SAMURAI ORCID ; Ashutosh Kumar ORCID ; Wei Yi ORCID ; Tadakatsu Ohkubo SAMURAI ORCID ; Ryo Tanaka ; Shinya Takashima ; Masaharu Edo ; Kacper Sierakowski ; Michal Bockowski ; Hideki Sakurai ; Tetsu Kachi ; Takashi Sekiguchi ORCID ; Kazuhiro Hono SAMURAI ORCID
キーワード
gallium nitride, implantation, atom probe tomography, cathodoluminescence, scanning transmission electron microscopy
刊行年月日
2022-05-14
更新時刻
2024-01-05 22:11:22 +0900
Development of automated tip preparation for atom probe tomography by using script-controlled FIB-SEM.pdf
Development of automated tip preparation for atom probe tomography by using script-controlled FIB-SEM
論文
著者
Jun Uzuhashi SAMURAI ORCID ; Tadakatsu Ohkubo SAMURAI ORCID ; Kazuhiro Hono SAMURAI ORCID
キーワード
atom probe tomography, focused ion beam, scanning electron microscopy, automation
刊行年月日
2023-02-19
更新時刻
2025-02-23 22:51:16 +0900