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表面電子分光法における電子の散乱効果の研究
オージェ電子分光法における背面散乱補正 I.広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発
マテリアルズインテグレーションの挑戦
利用性の高い材料データベース構築の仕方
Nd-Fe-B磁石用プロトタイプ熱力学データベースの構築
表面分析における電子の非弾性散乱
計算熱力学と組織形成シミュレーションに基づくNd-Fe-B系磁石における粒界相の役割解明
インフラ維持管理のための構造材料技術の開発
有機半導体材料における光電子収量分光(PYS)データベース構築
選択的レーザ溶融法による金属材料造形中に発生する微小欠陥のAEモニタリング
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Type of work
Publication
74
Collection
The history of DICE and NIMS Digital Library
8
Keyword
Auger Depth Profiling Analysis
8
fiber fuse
7
IMFP
4
Auger depth profiling analysis
3
hydrogen permeation
3
more
Keywords
»
Language
Japanese
[remove]
74
Publisher
National Institute for Materials Science
10
Surface Analysis Society of Japan
8
Surface Science Society of Japan
5
Surface Science Society Japan
4
情報処理学会
3
more
Publishers
»
Resource type
Article
[remove]
74
Other
1
Software or Program Code
1
Visibility
open
74
Rights Statement Sim
In Copyright
45
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International
13
Creative Commons BY-NC-ND Attribution-NonCommercial-NoDerivs 4.0 International
4
Creative Commons BY Attribution 4.0 International
3
Material/Specimen
InP/GaInAsP multilayer specimens
2
FeNi/CoFeB/FeNi Thin Film
1
GaAs
1
GaAs/AlAs Superlattice
1
GaAs/AlAs Superlattice and Si/Ge multiple delta-doped layers
1
more
Material/Specimen
»
Date accepted
2013
1
2017
1
Date submitted
2013
1
Date
2005
4
2008
2
2006
1
2007
1
2013
1
Creator
轟 眞市
9
井上 悟
1
Author
Ogiwara, Toshiya
9
Tanuma, Shigeo
8
出村 雅彦
6
田沼 繁夫
5
OGIWARA, Toshiya
4
more
Authors
»
License
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
1
https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/
1
Funder
JSPS
8
JST
5
日本学術振興会
3
AE法を利用した金属積層造形欠陥の高度インプロセスモニタリングシステムの開発
1
ESICMM
1
more
Funders
»
Journal
Journal of Surface Analysis
8
Journal of The Surface Science Society of Japan
6
Ceramics Japan
3
Vacuum and Surface Science
3
情報処理学会論文誌デジタルプラクティス
3
more
Journals
»