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田沼 繁夫
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電子の非弾性平均自由行程の一般式:JTP 式の開発
Description/Abstract:
我々は適用できるエネルギー範囲が広く,幅広い材料に対して適用できる改良型IMFP予測式(Jablonski-Tanuma-Powell (JTP)式)を開発した。この式はTPP-2M式を改良したもので、50eVから200keVまでの電子ネルギー範囲における100物質に対する...
Keyword:
IMFP
,
JTP equation
,
Jablonski-Tanuma-Powell equation
, and
general formula for IMFP
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
,
A. Jablonski
, and
C. J. Powell
Date Uploaded:
10/07/2023
10eV - 30 keVにおける固体中の電子阻止能の計算
Description/Abstract:
固体中における電子の阻止能(SP)は,非弾性散乱を記述する基本的なパラメータの一つであり,表面電子分光法において電子輸送をシミュレートする場合に不可欠な物理量である.また,放射線計量における基本的物理量でもある。SPの値は10keV以上ではいわゆる相対論的Betheの式が一...
Keyword:
Bethe equation
,
Electron Stopping Power
,
Influence of electron exchange
, and
full Penn algorithm
Resource Type:
Presentation
Author:
篠塚 寛志
,
田沼 繁夫
,
C.J. Powell
, and
D.R. Penn
Date Uploaded:
29/06/2023
モノづくりを支える表面分析技術: 表面分析の現状とその課題
Description/Abstract:
「表面分析」は様々な捉え方が出来るが,ここでは実用的な「表面の化学分析」とする。産業界においては,表面分析は1980年代から現在にいたるまで材料評価の大きな部分を担っており,故障解析には不可欠のツールである。表面電子分光法を中心として,物作りを支える表面分析技術の現状とその...
Keyword:
標準化
,
表面定量
,
計測・分析
, and
電子輸送シュミレータ
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
29/06/2023
TWA2 表面分析化学 2005年度のプロジェクトの概要と進捗
Description/Abstract:
VAMAS TWA2 表面化学分析における標準化は表面電子分光の装置仕様・校正法など基礎についてのものが多く,ほとんどのものはこのVAMAS活動により(個々人が)開発した手法,理論,データベース等に有用性が確認された後,ISOに提案され国際規格となっている.また,産業界にお...
Keyword:
TWA2
,
VAMAS
, and
表面化学分析
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
29/06/2023
Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies
Description/Abstract:
While the IMFP is a basic material parameter, the EAL, MED, and ID depend not only on the IMFP but also on the instrumental configuration...
Keyword:
EAL
,
EPES
,
IMFP
,
elemental solids
,
inorganic compounds
, and
water
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
,
後藤啓典
,
吉川 英樹
,
パウエル
,
Penn, D. R.
,
Da, B.
,
Ueda, R.
, and
Shinotsuka, H
Date Uploaded:
29/06/2023
電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み
Description/Abstract:
AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO TC201SCAの設立が2つの大きな転換点といえる。前者では,個々人の定量研究から国際共同研究を通して,定量の信頼性や正確性・遡及...
Keyword:
ISO
,
国際標準化
,
標準化の意味
,
標準化の歴史
, and
表面定量分析
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
26/06/2023
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Type of work
Publication
6
Keyword
IMFP
2
Bethe equation
1
EAL
1
EPES
1
Electron Stopping Power
1
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Keywords
»
Language
Japanese
6
Publisher
National Institute for Materials Science
6
Resource type
Presentation
[remove]
6
Visibility
open
6
Rights Statement Sim
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International
5
Author
田沼 繁夫
[remove]
6
A. Jablonski
1
C. J. Powell
1
C.J. Powell
1
D.R. Penn
1
more
Authors
»