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キーワード: Bayesian estimation
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4 件のレコードが見つかりました。
Bayesian inference for peak feature extraction and prediction of material property in X-ray diffraction data
論文
著者
Ryo Murakami
;
Taisuke T. Sasaki
;
Hideki Yoshikawa
;
Yoshitaka Matsushita
;
Keitaro Sodeyama
;
Tadakatsu Ohkubo
;
Hiroshi Shinotsuka
;
Kenji Nagata
キーワード
Materials informatics
,
Spectral decomposition
,
Bayesian estimation
,
Feature selection
,
AI-ready
刊行年月日
2024-12-31
更新時刻
2025-11-10 16:30:53 +0900
Bayesian inference method utilizing SESSA in quantitative layer structure estimation from XPS data
論文
著者
Atsushi Machida ;
Kenji Nagata
;
Ryo Murakami
;
Hiroshi Shinotsuka
; Hayaru Shouno ;
Hideki Yoshikawa
; Masato Okada
キーワード
X-ray photoelectron spectroscopy
,
Bayesian estimation
,
Exchange Monte Carlo method
,
SESSA
刊行年月日
2024-05-29
更新時刻
2025-11-10 12:30:27 +0900
Bayesian estimation analysis of X-ray photoelectron spectra: Application to Si 2p spectrum analysis of oxidized silicon surfaces
論文
著者
Hiroshi Shinotsuka
;
Kenji Nagata
;
Hideki Yoshikawa
; Shuichi Ogawa ; Akitaka Yoshigoe
キーワード
Bayesian estimation
,
X-ray photoelectron spectroscopy
,
Statistical analysis
,
Silicon surface oxidation
刊行年月日
2024-12-03
更新時刻
2025-01-21 12:30:34 +0900
Sample structure prediction from measured XPS data using Bayesian estimation and SESSA simulator
論文
著者
Hiroshi Shinotsuka
;
Kenji Nagata
; Malinda Siriwardana ;
Hideki Yoshikawa
;
Hayaru Shouno
;
Masato Okada
キーワード
X-ray photoelectron spectroscopy
,
Bayesian estimation
,
Exchange Monte Carlo method
,
SESSA
刊行年月日
2023-07-06
更新時刻
2024-01-05 22:11:57 +0900
キーワード
Bayesian estimation
(4)
X-ray photoelectron spectroscopy
(3)
Exchange Monte Carlo method
(2)
SESSA
(2)
AI-ready
(1)
Feature selection
(1)
Materials informatics
(1)
Silicon surface oxidation
(1)
Spectral decomposition
(1)
Statistical analysis
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
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