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Bayesian estimation analysis of X-ray photoelectron spectra: Application to Si 2p spectrum analysis of oxidized silicon surfaces
- 論文
- 著者
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Hiroshi Shinotsuka
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Kenji Nagata
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Hideki Yoshikawa
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Shuichi Ogawa
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Akitaka Yoshigoe
- キーワード
- Bayesian estimation, X-ray photoelectron spectroscopy, Statistical analysis, Silicon surface oxidation
- 刊行年月日
- 2024-12-03
- 更新時刻
- 2025-01-21 12:30:34 +0900