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資源タイプ: journal_article
キーワード: Auger depth profiling analysis
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3 件のレコードが見つかりました。
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy, Quantitative Evaluation of the Surface Roughness Caused by Ion Sputtering
論文
著者
OGIWARA, Toshiya
;
TANUMA, Shigeo
キーワード
depth resolution function
,
InP/GaInAsP multilayer specimens
,
Auger depth profiling analysis
,
surface roughness
,
atomic force microscope
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:24:02 +0900
Auger Depth Profiling Analyses of InP/GaInAsP Multilayers
論文
著者
OGIWARA, Toshiya
;
TANUMA, Shigeo
キーワード
argon ion sputtering
,
InP/GaInAsP multilayer specimens
,
Auger depth profiling analysis
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 02:01:29 +0900
Auger Depth Profile Analysis of GaAs/AIAs Thin Film by Synthesized Spectrum Method Using Non-Negative Least Square Curve Fitting
論文
著者
OGIWARA, Toshiya
;
TANUMA, Shigeo
キーワード
peak separation
,
non-negative least-square curve fit
,
Auger depth profiling analysis
,
GaAs/AlAs multilayer
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:51:43 +0900
キーワード
Auger depth profiling analysis
(3)
InP/GaInAsP multilayer specimens
(2)
GaAs/AlAs multilayer
(1)
argon ion sputtering
(1)
atomic force microscope
(1)
depth resolution function
(1)
non-negative least-square curve fit
(1)
peak separation
(1)
surface roughness
(1)
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