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Summary of ISO/TC 201 Standard: XX ISO 18118: 2004 — Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy —Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
- ジャーナル論文
- 著者
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TANUMA, Shigeo (author) (この著者で検索)
- キーワード
- XPS, quantitative surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, relative sensitivity factor, ISO, International Organization for Standardization, AES
- 刊行年月日
- 2005-12-28
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:34 +0900
オージェ電子分光法における背面散乱補正 I．広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発
- ジャーナル論文
- 著者
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田沼 繁夫 (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Auger electron spectroscopy, AES, electron backscattering correction, predictive formula for back scattering correction
- 刊行年月日
- 2018-10-19
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:01 +0900