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資源タイプ: ジャーナル論文
キーワード: atom probe tomography
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Atomic resolution analysis of extended defects and Mg agglomeration in Mg-ion-implanted GaN and their impacts on acceptor formation
ジャーナル論文
著者
Emi Kano
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Emi Kano
;
Keita Kataoka
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Keita Kataoka
;
Jun Uzuhashi
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https://orcid.org/0000-0003-2023-8158
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Jun Uzuhashi
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Kenta Chokawa
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Kenta Chokawa
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Hideki Sakurai
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Hideki Sakurai
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Akira Uedono
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Akira Uedono
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Tetsuo Narita
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Tetsuo Narita
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Kacper Sierakowski
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Kacper Sierakowski
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Michal Bockowski
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Michal Bockowski
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Ritsuo Otsuki
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Ritsuo Otsuki
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Koki Kobayashi
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Koki Kobayashi
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Yuta Itoh
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Yuta Itoh
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Masahiro Nagao
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Masahiro Nagao
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Tadakatsu Ohkubo
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https://orcid.org/0000-0003-3548-1951
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tadakatsu Ohkubo
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Kazuhiro Hono
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https://orcid.org/0000-0001-7367-0193
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Kazuhiro Hono
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Jun Suda
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Jun Suda
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Tetsu Kachi
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Tetsu Kachi
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Nobuyuki Ikarashi
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Nobuyuki Ikarashi
キーワード
gallium nitride
,
transmission electron microscopy
,
atom probe tomography
刊行年月日
2022-08-14
更新時刻
2024-01-05 22:13:58 +0900
Characterization of δNi<sub>2</sub>Si Precipitates in Cu-Ni-Si Alloy by Small-Angle X-ray Scattering, Small-Angle Neutron Scattering, and Atom Probe Tomography
ジャーナル論文
著者
Hirokazu Sasaki
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Hirokazu Sasaki
;
Syunta Akiya
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Syunta Akiya
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Kuniteru Mihara
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Yojiro Oba
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Masato Onuma
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Masato Onuma
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Jun Uzuhashi
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https://orcid.org/0000-0003-2023-8158
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Jun Uzuhashi
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Tadakatsu Ohkubo
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https://orcid.org/0000-0003-3548-1951
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tadakatsu Ohkubo
キーワード
atom probe tomography
刊行年月日
2025-01-01
更新時刻
2025-01-08 16:31:18 +0900
An Automated Site-Specific Tip Preparation Method for Atom Probe Tomography Using Script-Controlled Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy
ジャーナル論文
著者
Jun Uzuhashi
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https://orcid.org/0000-0003-2023-8158
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Jun Uzuhashi
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Tadakatsu Ohkubo
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https://orcid.org/0000-0003-3548-1951
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tadakatsu Ohkubo
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Kazuhiro Hono
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https://orcid.org/0000-0001-7367-0193
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Kazuhiro Hono
キーワード
atom probe tomography
,
focused ion beam
,
scanning electron microscopy
刊行年月日
2025-02-03
更新時刻
2024-09-05 08:30:18 +0900
Multiprobe analyses on nucleation and evolution of nanocrystallization process in a high saturation magnetization soft magnetic Fe–Si–B–P–Cu–C alloy
ジャーナル論文
著者
Shozo Hiramoto
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https://orcid.org/0009-0004-3985-2718
(unauthenticated)
Shozo Hiramoto
;
Satoshi Okamoto
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Satoshi Okamoto
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Jun Uzuhashi
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https://orcid.org/0000-0003-2023-8158
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Jun Uzuhashi
;
Tadakatsu Ohkubo
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https://orcid.org/0000-0003-3548-1951
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tadakatsu Ohkubo
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Akihiko Toda
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Akihiko Toda
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Sangwook Kim
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Sangwook Kim
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Chikako Moriyoshi
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Chikako Moriyoshi
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Yoshihiro Kuroiwa
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Yoshihiro Kuroiwa
キーワード
atom probe tomography
,
transmission electron microscopy
,
nanocrystalline soft magnetic material
刊行年月日
2025-02-10
更新時刻
2026-02-11 08:30:29 +0900
キーワード
atom probe tomography
(4)
transmission electron microscopy
(2)
focused ion beam
(1)
gallium nitride
(1)
nanocrystalline soft magnetic material
(1)
scanning electron microscopy
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gallium nitride (1)
nanocrystalline soft magnetic material (1)
scanning electron microscopy (1)
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