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NIMS_MDR.pdf
Direct Analysis of Stacked Au/Ti/In2O3/Al2O3/p+-Si Transport Mechanisms Using Operando Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
ジャーナル論文
著者
Ibrahima Gueye (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Shigenori Ueda (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Atsushi Ogura (author) (この著者で検索)
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Takahiro Nagata (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Operando, HAXPES, Interfaces, In2O3, Al2O3, Band bending, Chemical-structures
刊行年月日
2024-05-28
更新時刻
2025-05-15 08:30:10 +0900
nohighlight_Si-K-Ga2O3_resubmit_2403011908_revYY.pdf
Photoelectron holographic study for atomic site occupancy for Si dopants in Si-doped κ-Ga2O3(001)
ジャーナル論文
著者
Yuhua Tsai (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group
ORCID ;
Yusuke Hashimoto (author) (この著者で検索)
NAIST
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ZeXu Sun (author) (この著者で検索)
NAIST
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Takuya Moriki (author) (この著者で検索)
NAIST
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Takashi Tadamura (author) (この著者で検索)
NAIST
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Takahiro Nagata (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group
ORCID SAMURAI ;
Piero Mazzolini (author) (この著者で検索)
University of Parma
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Antonella Parisini (author) (この著者で検索)
University of Parma
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Matteo Bosi (author) (この著者で検索)
IMEM-CNR
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Luca Seravalli (author) (この著者で検索)
IMEM-CNR
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Tomohiro Matsushita (author) (この著者で検索)
NAIST
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Yoshiyuki Yamashita (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group
ORCID SAMURAI
キーワード
Ga2O3, κ-Ga2O3
刊行年月日
2024-04-03
更新時刻
2025-03-07 12:30:11 +0900
2023A01879A.pdf
NF3 and F2 gas fluorination of GaN surface and Pt/GaN interface analyzed by hard X-ray photoelectron spectroscopy
ジャーナル論文
著者
Asahiko Matsuda (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Takashi Teramoto (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Takahiro Nagata (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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Dominic Gerlach (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Peng Shen (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Shigenori Ueda (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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Takako Kimura (author) (この著者で検索)
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Christian Dussarrat (author) (この著者で検索)
; ORCID SAMURAI
キーワード
Fluorination, Surface passivation, hard X-ray photoelectron spectroscopy, Gallium nitride
刊行年月日
2024-03-19
更新時刻
2026-03-19 14:27:24 +0900
Dataset
べき乗則で解釈されるスペクトルの閾値及びべき乗数の自動解析方法
データセット
著者
柳生 進二郎 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
吉武 道子 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
長田 貴弘 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI
キーワード
threshold, Power Law, Automatic estimation methods
刊行年月日
2024-03-31
更新時刻
2024-04-26 16:30:10 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
HfO2-Fig5-Work-20230419.pdf
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:38 +0900
jsa_vol29_3_02_yagyu.pdf
有機半導体材料における光電子収量分光（PYS）データベース構築
ジャーナル論文
著者
柳生 進二郎 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 機能性材料研究拠点/電気・電子機能分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
吉武 道子 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 機能性材料研究拠点/電気・電子機能分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
長田 貴弘 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 機能性材料研究拠点/電気・電子機能分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
安田 剛 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 機能性材料研究拠点/ポリマー・バイオ分野/分子機能化学グループ
ORCID SAMURAI ;
桑島 功 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 統合型材料開発・情報基盤部門/材料データプラットフォームセンター/データサービスチーム
ORCID SAMURAI ;
劉雨彬 (author) (この著者で検索)
理研計器
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中島嘉之 (author) (この著者で検索)
理研計器
キーワード
photoemission yield spectroscopy (PYS), database
刊行年月日
2023-08-19
更新時刻
2024-04-16 13:04:24 +0900
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