Yuhua Tsai
(Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group, National Institute for Materials Science
)
;
Yusuke Hashimoto
(NAIST)
;
ZeXu Sun
(NAIST)
;
Takuya Moriki
(NAIST)
;
Takashi Tadamura
(NAIST)
;
Takahiro Nagata
(Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group, National Institute for Materials Science
)
;
Piero Mazzolini
(University of Parma)
;
Antonella Parisini
(University of Parma)
;
Matteo Bosi
(IMEM-CNR)
;
Luca Seravalli
(IMEM-CNR)
;
Tomohiro Matsushita
(NAIST)
;
Yoshiyuki Yamashita
(Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group, National Institute for Materials Science
)
代替タイトル: NA
説明:
(abstract)κ-Ga2O3中Siドーパントの原子位置を光電子ホログラフィ法により明らかにした。
権利情報:
刊行年月日: 2024-04-03
出版者: American Chemical Society
掲載誌:
研究助成金:
原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.4479
公開URL: https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00482
関連資料:
その他の識別子:
連絡先:
更新時刻: 2025-03-07 12:30:11 +0900
MDRでの公開時刻: 2025-03-07 12:30:12 +0900
| ファイル名 | サイズ | |||
|---|---|---|---|---|
| ファイル名 |
nohighlight_Si-K-Ga2O3_resubmit_2403011908_revYY.pdf
(サムネイル)
application/pdf |
サイズ | 1.67MB | 詳細 |