22 件のレコードが見つかりました。
Continuous real-time O 1s core XPS spectra of H2O adsorption on +c Ga-face and m-plane surfaces of GaN
- データセット
- 著者
-
SUMIYA, Masatomo (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- GaN, Gallium nitride, Surface oxidation, Oxidation, MOS structure, XPS, SPring-8
- 刊行年月日
- 2022-12-31
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:14 +0900
Continuous real-time O 1s core XPS spectra of initial O2 molecule adsorption on polar and m-plane surfaces of GaN
- データセット
- 著者
-
SUMIYA, Masatomo (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- GaN, Gallium nitride, Oxidation, Adsorption, XPS, SPring-8
- 刊行年月日
- 2020-11-19
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:22 +0900
べき乗則で解釈されるスペクトルの閾値及びべき乗数の自動解析方法
- データセット
- 著者
-
柳生 進二郎 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
;
吉武 道子 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
;
長田 貴弘 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
- キーワード
- threshold, Power Law, Automatic estimation methods
- 刊行年月日
- 2024-03-31
- 更新時刻
- 2024-04-26 16:30:10 +0900
Electrodeposited copper film data
- データセット
- 著者
-
;Ryo Tamura (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science;Ryuichi Inaba (author) (この著者で検索)Mitsubishi Materials Corporation;Mami Watanabe (author) (この著者で検索)Mitsubishi Materials Corporation;Yutaro Mori (author) (この著者で検索)Mitsubishi Materials Corporation;Makoto Urushihara (author) (この著者で検索)Mitsubishi Materials Corporation;Kenji Yamaguchi (author) (この著者で検索)Mitsubishi Materials CorporationShoichi Matsuda (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Electrodeposition, copper film
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2024-10-30 16:30:48 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-04-07 22:57:41 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:38 +0900
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:25 +0900