ファイル種別: application/pdf キーワード: Auger Depth Profiling Analysis
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表面科学_13_1992_595.pdf
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayer Structure with Auger Electron Spectroscopy by Using Argon Ion Spot Beam
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
HARADA, Tomoko (author) (この著者で検索)
; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayer Specimen, Argon Ion Spot Beam
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 02:04:45 +0900
表面科学_13_1992_472.pdf
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy. Effects of Zalar Rotation and Liquid Nitrogen Cold Stage
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Nagasawa, Yuji (author) (この著者で検索)
;
Ikeo, Nobuyuki (author) (この著者で検索)
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayers, Zalar Rotation Method, Sample Cooling Method
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:53:08 +0900
表面科学_32_2011_664.pdf
Ultra High Depth Resolution Auger Depth Profiling by Both Electron and Ion Beams at the Glancing Incidence using an Inclined Specimen Holder
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
Nagatomi, Takaharu (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Kim, Kyung Joong (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, Si/Ge multiple delta-doped layers, GaAs/AlAs Superlattice, Inclined Holder
刊行年月日
2011-10-24
更新時刻
2024-01-05 22:14:10 +0900
Vol.1_No.3_374-387.pdf
InP/GaInAs多層膜のAES深さ方向分析のラウンドロビン試験報告（I）
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAs Specimen, Round Robin Test
刊行年月日
1995-11-16
更新時刻
2022-10-03 01:55:14 +0900
JSA_Vol18_No3_174.pdf
High-Sensitivity and High-Depth Resolution Auger Depth Profiling Using an Inclined Holder based on Geometric Characteristics of Auger Electron Spectroscopy Apparatus Equipped with Concentric Hemispherical Analyzer
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Kim, Kyung Joong (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Nagatomi, Takaharu (author) (この著者で検索)
ORCID
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, Si/Ge multiple delta-doped layers, GaAs/AlAs Superlattice, Inclined Holder
刊行年月日
2016-04-03
更新時刻
2024-01-05 22:13:47 +0900
JSA_Vol.1_No.2_227-233.pdf
InP/GaInAsP多層膜におけるAES深さ分解能の温度依存性
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, Depth Resolution, Sample Temperature, InP/GaInAsP多層膜
刊行年月日
1995-05-17
更新時刻
2022-10-03 01:44:22 +0900
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