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Influence of Fermi level pinning on contact potential difference measurements using Kelvin probe force microscopy
- ジャーナル論文
- 著者
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Nobuyuki Ishida (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Kelvin probe force microscopy, Simulation, Electrostatic force, Fermi level pinning
- 刊行年月日
- 2025-03-07
- 更新時刻
- 2025-03-10 16:30:14 +0900
Quantitative theoretical analysis of the electrostatic force between a metallic tip and semiconductor surface in Kelvin probe force microscopy
- ジャーナル論文
- 著者
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Nobuyuki Ishida (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Takaaki Mano (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Kelvin probe force microscopy, Simulation, GaAs(110)
- 刊行年月日
- 2025-02-17
- 更新時刻
- 2025-12-03 08:30:21 +0900
Quantitative characterization of built-in potential profile across GaAs p–n junctions using Kelvin probe force microscopy with qPlus sensor AFM
- ジャーナル論文
- 著者
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Nobuyuki Ishida (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Takaaki Mano (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- GaAs(110), Kelvin probe force microscopy, p-n junction, qPlus sensor
- 刊行年月日
- 2024-02-05
- 更新時刻
- 2024-04-04 08:30:11 +0900