X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析

論文

著者

佐々木 宏和 ; 秋谷 俊太 ; 三原 邦照 ; 大場 洋次郎 ; 大沼 正人 ; 埋橋 淳 ; 大久保 忠勝

キーワード

atom probe tomography, transmission electron microscopy, Corson alloy

刊行年月日

更新時刻

2024-01-30 09:51:05 +0900