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ライセンス
Creative Commons BY Attribution 4.0 International (1)
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International (1)
ファイル種別
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application/pdf (1)
image/jpeg (1)
試料の化学組成
シリコン (1)
計測法
X線光電子分光法 (1)
X線光電子分光法 (1)
試料種別
シリコン (1)
装置名
BL23_XPS (1)
XPS SPring-8 BL15 (1)
装置型番
(2)
キーワード: XPS
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XPS spectral data for p- and n-type Si wafers with various resistivities acquired at SPring-8 BL15
データセット
著者
SUMIYA, Masatomo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-0960-3812
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
SUMIYA, Masatomo
キーワード
XPS
,
SPring-8 BL15
,
Si
刊行年月日
更新時刻
2024-05-24 08:30:24 +0900
Continuous real-time O 1s core XPS spectra of initial O
2
molecule adsorption on polar and m-plane surfaces of GaN
データセット
著者
SUMIYA, Masatomo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-0960-3812
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
SUMIYA, Masatomo
キーワード
GaN
,
Gallium nitride
,
Oxidation
,
Adsorption
,
XPS
,
SPring-8
刊行年月日
2020-11-19
更新時刻
2024-01-05 22:13:22 +0900
Calculation of Electron Inelastic Mean Free Paths (IMFPs). VII. Reliability of the TPP-2M IMFP Predictive Equation
ジャーナル論文
著者
Tanuma, Shigeo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tanuma, Shigeo
;
Powell, C. J.
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0001-8990-2286
(unauthenticated)
Powell, C. J.
;
Penn, D. R.
(author) (
この著者で検索
)
Penn, D. R.
キーワード
IMFP
,
TPP-2M
,
number of valence electrons
,
elemental solids
,
XPS
,
electron inelastic mean free paths
,
surface sensitivity
,
IMFPs
,
AES
,
surface analysis
刊行年月日
2003-02-11
更新時刻
2022-10-03 01:54:38 +0900
キーワード
XPS
(3)
AES
(1)
Adsorption
(1)
GaN
(1)
Gallium nitride
(1)
IMFP
(1)
IMFPs
(1)
Oxidation
(1)
SPring-8
(1)
SPring-8 BL15
(1)
Si
(1)
TPP-2M
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electron inelastic mean free paths
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elemental solids
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surface analysis
(1)
surface sensitivity
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IMFP (1)
IMFPs (1)
Oxidation (1)
SPring-8 (1)
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(more)
ライセンス
Creative Commons BY Attribution 4.0 International (1)
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International (1)
ファイル種別
application/zip (2)
application/pdf (1)
image/jpeg (1)
試料の化学組成
シリコン (1)
計測法
X線光電子分光法 (1)
X線光電子分光法 (1)
試料種別
シリコン (1)
装置名
BL23_XPS (1)
XPS SPring-8 BL15 (1)
装置型番
(2)