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Influence of Fermi level pinning on contact potential difference measurements using Kelvin probe force microscopy
- ジャーナル論文
- 著者
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Nobuyuki Ishida (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Kelvin probe force microscopy, Simulation, Electrostatic force, Fermi level pinning
- 刊行年月日
- 2025-03-07
- 更新時刻
- 2025-03-10 16:30:14 +0900
Quantitative theoretical analysis of the electrostatic force between a metallic tip and semiconductor surface in Kelvin probe force microscopy
- ジャーナル論文
- 著者
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Nobuyuki Ishida (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Takaaki Mano (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Kelvin probe force microscopy, Simulation, GaAs(110)
- 刊行年月日
- 2025-02-17
- 更新時刻
- 2025-12-03 08:30:21 +0900
光励起された電子を無バイアスで一方向に輸送する光起電力型検出器を開発
- 報告書
- 著者
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宮崎 英樹 (author) (この著者で検索)
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間野 高明 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/光学材料分野/半導体エピタキシャル構造グループ
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野田 武司 (author) (この著者で検索)
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笠谷 岳士 (author) (この著者で検索)
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;ハビブラ ユスフ ババナゲリ (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 機能性材料研究拠点/光機能分野/プラズモニクスグループ石田 暢之 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 マテリアル基盤研究センター/先端解析分野/ナノプローブグループ
- キーワード
- 赤外検出器
- 刊行年月日
- [2024年]
- 更新時刻
- 2024-08-26 12:30:50 +0900
Quantitative characterization of built-in potential profile across GaAs p–n junctions using Kelvin probe force microscopy with qPlus sensor AFM
- ジャーナル論文
- 著者
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Nobuyuki Ishida (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Takaaki Mano (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- GaAs(110), Kelvin probe force microscopy, p-n junction, qPlus sensor
- 刊行年月日
- 2024-02-05
- 更新時刻
- 2024-04-04 08:30:11 +0900