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JAP_submit.pdf
Effectiveness of fluorine termination at nitrogen vacancies inside gallium nitride crystals based on first-principles calculations
ジャーナル論文
著者
Yuki Fujishiro (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Tomoe Yayama (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Fumiko Akagi (author) (この著者で検索)
ORCID
キーワード
Gallium nitride, First-principles calculations, Fluorine termination, Nitrogen vacancies
刊行年月日
2026-02-28
更新時刻
2026-04-03 10:13:47 +0900
J. Chem. Phys. 163, 234712 (2025)_manuscript_MDR.pdf
Overcoming surface energy to control Cu3N epitaxial growth
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Thin films, Epitaxial growth, Surface energy, Transition metal nitrides
刊行年月日
2025-12-21
更新時刻
2025-12-22 09:40:07 +0900
Dataset
Preprocessing Method for Spectra Interpreted by the Power Law Using Segment Regression
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Photoelectron Yield Spectroscopy:, segment regression, Power Law
刊行年月日
2024-11-26
更新時刻
2024-12-04 14:52:47 +0900
NIMS_MDR.pdf
Direct Analysis of Stacked Au/Ti/In2O3/Al2O3/p+-Si Transport Mechanisms Using Operando Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
ジャーナル論文
著者
Ibrahima Gueye (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Shigenori Ueda (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Atsushi Ogura (author) (この著者で検索)
;
Takahiro Nagata (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Operando, HAXPES, Interfaces, In2O3, Al2O3, Band bending, Chemical-structures
刊行年月日
2024-05-28
更新時刻
2025-05-15 08:30:10 +0900
nohighlight_Si-K-Ga2O3_resubmit_2403011908_revYY.pdf
Photoelectron holographic study for atomic site occupancy for Si dopants in Si-doped κ-Ga2O3(001)
ジャーナル論文
著者
Yuhua Tsai (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group
ORCID ;
Yusuke Hashimoto (author) (この著者で検索)
NAIST
;
ZeXu Sun (author) (この著者で検索)
NAIST
;
Takuya Moriki (author) (この著者で検索)
NAIST
;
Takashi Tadamura (author) (この著者で検索)
NAIST
;
Takahiro Nagata (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group
ORCID SAMURAI ;
Piero Mazzolini (author) (この著者で検索)
University of Parma
;
Antonella Parisini (author) (この著者で検索)
University of Parma
;
Matteo Bosi (author) (この著者で検索)
IMEM-CNR
;
Luca Seravalli (author) (この著者で検索)
IMEM-CNR
;
Tomohiro Matsushita (author) (この著者で検索)
NAIST
;
Yoshiyuki Yamashita (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Functional Materials Field/Nano Electronics Device Materials Group
ORCID SAMURAI
キーワード
Ga2O3, κ-Ga2O3
刊行年月日
2024-04-03
更新時刻
2025-03-07 12:30:11 +0900
Dataset
べき乗則で解釈されるスペクトルの閾値及びべき乗数の自動解析方法
データセット
著者
柳生 進二郎 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
吉武 道子 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
長田 貴弘 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI
キーワード
threshold, Power Law, Automatic estimation methods
刊行年月日
2024-03-31
更新時刻
2024-04-26 16:30:10 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
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