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340 件のレコードが見つかりました。
Continuous real-time O 1s core XPS spectra of H2O adsorption on +c Ga-face and m-plane surfaces of GaN
- データセット
- 著者
-
SUMIYA, Masatomo (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- GaN, Gallium nitride, Surface oxidation, Oxidation, MOS structure, XPS, SPring-8
- 刊行年月日
- 2022-12-31
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:14 +0900
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:25 +0900
Continuous real-time O 1s core XPS spectra of initial O2 molecule adsorption on polar and m-plane surfaces of GaN
- データセット
- 著者
-
SUMIYA, Masatomo (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- GaN, Gallium nitride, Oxidation, Adsorption, XPS, SPring-8
- 刊行年月日
- 2020-11-19
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:22 +0900
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:25 +0900
MDR SuperCon Datasheet Ver.220808
- データセット
- コレクション
- MDR SuperCon Datasheet
- 著者
-
Materials Database Group (editor) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- SuperCon, Superconductors, Oxide, Metallic, Organic, Tc
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2023-12-25 00:30:40 +0900
Raw data files for Fig. 8 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:29 +0900
Original data for Fig.4.8 in a NIMS Monograph titled "fiber fuse"
- データセット
- 著者
-
TODOROKI, Shin-ichi (operator) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- fiber fuse, void formation
- 刊行年月日
- 2014-05-22
- 更新時刻
- 2022-10-17 01:16:54 +0900
HAXPES spectra of Au Sputtered
- データセット
- コレクション
- MDR HAXPES DB
- 著者
-
Industrial Application and Partnership Division, JASRI (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Au Sputtered, BL46XU, HAXPES, SPring-8, collection - MDR HAXPES DB
- 刊行年月日
- 2022-03-28
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:38:54 +0900
HAXPES spectra of Ru
- データセット
- コレクション
- MDR HAXPES DB
- 著者
-
Industrial Application and Partnership Division, JASRI (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Ru, BL46XU, HAXPES, SPring-8, collection - MDR HAXPES DB
- 刊行年月日
- 2021-10-18
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:55:50 +0900
HAXPES spectra of W
- データセット
- コレクション
- MDR HAXPES DB
- 著者
-
Industrial Application and Partnership Division, JASRI (author) (この著者で検索)
- キーワード
- W, BL46XU, HAXPES, SPring-8, collection - MDR HAXPES DB
- 刊行年月日
- 2021-10-18
- 更新時刻
- 2022-10-03 02:04:39 +0900