メニュー
MDRについて
ヘルプ
お問い合わせ
Switch language
日本語
English
ログイン
ログイン
Search MDR
Home
論文・データセット
コレクション
資源タイプ
ジャーナル論文(2)
プレゼンテーション(1)
キーワード
XPS (3)
AES (2)
Auger electron spectroscopy (1)
IMFP (1)
ISO (1)
International Organization for Standardization (1)
TPP-2M (1)
X-ray photoelectron spectroscopy (1)
in situ (1)
quantitative surface analysis (1)
(more)
ライセンス
In Copyright (2)
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International (1)
ファイル種別
application/pdf (3)
ファイル種別: application/pdf
キーワード: XPS
全ての絞り込みを解除
3 件のレコードが見つかりました。
全ての絞り込みを解除
実験室型 XPS 装置による溶液種の観察と全固体電池の実働環境計測
ジャーナル論文
著者
遠藤 頼夢
(author) (
この著者で検索
)
National Institute for Materials Science
遠藤 頼夢
;
増田 卓也
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0001-7462-2177
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
増田 卓也
キーワード
オペランド
,
in situ
,
XPS
刊行年月日
2023-08-07
更新時刻
2024-12-02 16:30:52 +0900
Determination of Inelastic Mean Free Paths in Elemental Solids in the 200 to 5000 eV Energy Range by Absolute Elastic Peak Electron Spectroscopy
プレゼンテーション
著者
Tanuma,S
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
物質・材料研究機構
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tanuma,S
;
Okamoto, N
(author) (
この著者で検索
)
物質・材料研究機構
Okamoto, N
;
Azuma, Y
(author) (
この著者で検索
)
Azuma, Y
;
Kimura, T
(author) (
この著者で検索
)
物質・材料研究機構
Kimura, T
;
Goto, K
(author) (
この著者で検索
)
名古屋工業大学
Goto, K
キーワード
IMFP
,
TPP-2M
,
AES
,
XPS
刊行年月日
2006-09-24
更新時刻
2023-07-07 09:23:43 +0900
Summary of ISO/TC 201 Standard: XX ISO 18118: 2004 — Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy —Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
ジャーナル論文
著者
TANUMA, Shigeo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
TANUMA, Shigeo
キーワード
XPS
,
quantitative surface analysis
,
X-ray photoelectron spectroscopy
,
Auger electron spectroscopy
,
relative sensitivity factor
,
ISO
,
International Organization for Standardization
,
AES
刊行年月日
2005-12-28
更新時刻
2024-01-05 22:11:34 +0900
キーワード
XPS
(3)
AES
(2)
Auger electron spectroscopy
(1)
IMFP
(1)
ISO
(1)
International Organization for Standardization
(1)
TPP-2M
(1)
X-ray photoelectron spectroscopy
(1)
in situ
(1)
quantitative surface analysis
(1)
relative sensitivity factor
(1)
オペランド
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
<
1
>
絞り込み
コレクション
資源タイプ
ジャーナル論文(2)
プレゼンテーション(1)
キーワード
XPS (3)
AES (2)
Auger electron spectroscopy (1)
IMFP (1)
ISO (1)
International Organization for Standardization (1)
TPP-2M (1)
X-ray photoelectron spectroscopy (1)
in situ (1)
quantitative surface analysis (1)
(more)
ライセンス
In Copyright (2)
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International (1)
ファイル種別
application/pdf (3)