MDRについて
ヘルプ
お問い合わせ
Switch language
日本語
English
Search MDR
Home
論文・データセット
コレクション
資源タイプ
データセット(8)
論文(3)
キーワード
Auger depth profiling analysis (11)
HfO2/Si (8)
Ultra low angle incidence ion beam (8)
InP/GaInAsP multilayer specimens (2)
GaAs/AlAs multilayer (1)
argon ion sputtering (1)
atomic force microscope (1)
depth resolution function (1)
non-negative least-square curve fit (1)
peak separation (1)
(more)
ライセンス
In Copyright (8)
ファイル種別
application/pdf (11)
application/zip (8)
ファイル種別: application/pdf
キーワード: Auger depth profiling analysis
全ての絞り込みを解除
11 件のレコードが見つかりました。
Auger Depth Profile Analysis of GaAs/AIAs Thin Film by Synthesized Spectrum Method Using Non-Negative Least Square Curve Fitting
論文
著者
OGIWARA, Toshiya
;
TANUMA, Shigeo
キーワード
peak separation
,
non-negative least-square curve fit
,
Auger depth profiling analysis
,
GaAs/AlAs multilayer
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:51:43 +0900
キーワード
Auger depth profiling analysis
(11)
HfO2/Si
(8)
Ultra low angle incidence ion beam
(8)
InP/GaInAsP multilayer specimens
(2)
GaAs/AlAs multilayer
(1)
argon ion sputtering
(1)
atomic force microscope
(1)
depth resolution function
(1)
non-negative least-square curve fit
(1)
peak separation
(1)
surface roughness
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
<
1
2
>