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Vol.2_No.1_59-64.pdf
試料冷却法を併用したAES深さ方向分析によるSiO2/Si熱酸化膜の分析
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, SiO2/Si, Sample Cooling Method
刊行年月日
1996-02-08
更新時刻
2022-10-03 01:39:59 +0900
membranes-11-00330.pdf
Water Electrolysis Using a Porous IrO2/Ti/IrO2 Catalyst Electrode and Nafion Membranes at Elevated Temperatures
ジャーナル論文
著者
Je-Deok Kim (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Akihiro Ohira (author) (この著者で検索)
キーワード
polymer electrolyte, nafion membrane, porous IrO2/Ti/IrO2 catalyst electrode, water electrolysis, elevated temperature
刊行年月日
2021-04-30
更新時刻
2024-01-05 22:12:20 +0900
nanomaterials-10-00711.pdf
Tunable Photodetectors via In Situ Thermal Conversion of TiS3 to TiO2
ジャーナル論文
著者
Foad Ghasemi (author) (この著者で検索)
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Riccardo Frisenda (author) (この著者で検索)
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Eduardo Flores (author) (この著者で検索)
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Nikos Papadopoulos (author) (この著者で検索)
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Robert Biele (author) (この著者で検索)
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David Perez de Lara (author) (この著者で検索)
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Herre S. J. van der Zant (author) (この著者で検索)
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Kenji Watanabe (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Takashi Taniguchi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Roberto D’Agosta (author) (この著者で検索)
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Jose R. Ares (author) (この著者で検索)
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Carlos Sánchez (author) (この著者で検索)
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Isabel J. Ferrer (author) (この著者で検索)
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Andres Castellanos-Gomez (author) (この著者で検索)
キーワード
Controlled oxidation, titanium trisulfide, band structure
刊行年月日
2020-04-09
更新時刻
2025-02-26 16:30:19 +0900
化学工学会_最終版.pdf
深冷分離法を用いたCO2/N2分離のプロセスシミュレーション
会議発表ポスター
著者
井上 瑞基 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
ORCID SAMURAI ;
ビン　イスマイル イドゥアン (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
ORCID ;
田畑 卓哉 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
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工藤 友佑 (author) (この著者で検索)
プラントデジタルエックス株式会社
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一ノ瀬 泉 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
ORCID SAMURAI
キーワード
CO2/N2 separation, cryogenic separation, process simulation
刊行年月日
更新時刻
2025-12-23 10:17:52 +0900
Vol.24_No.3_03_Ogiwara.pdf
Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling analysis, HfO2/Si, Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:11:28 +0900
Shibata_et_al-2023-Scientific_Reports.pdf
Redox-based ion-gating reservoir consisting of (104) oriented LiCoO2 film, assisted by physical masking
ジャーナル論文
著者
Kaoru Shibata (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Daiki Nishioka (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Wataru Namiki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Takashi Tsuchiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Tohru Higuchi (author) (この著者で検索)
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Kazuya Terabe (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
reservoir computing, ionics, redox transistor, ion-gating reservoir, neuromorphic computing
刊行年月日
2023-11-29
更新時刻
2024-12-12 16:30:42 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
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