キーワード: ISO
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表面定量分析における標準化の歩み_v3.pdf
電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み
プレゼンテーション
著者
田沼 繁夫 (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science 統合型材料開発・情報基盤部門/材料データプラットフォームセンター/データサービスチーム
ORCID SAMURAI
キーワード
表面定量分析, 国際標準化, ISO, 標準化の歴史, 標準化の意味
刊行年月日
更新時刻
2023-06-26 10:42:44 +0900
Summary_of_ISO18118-2.pdf
Summary of ISO/TC 201 Standard: XX ISO 18118: 2004 — Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy —Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI
キーワード
XPS, quantitative surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, relative sensitivity factor, ISO, International Organization for Standardization, AES
刊行年月日
2005-12-28
更新時刻
2024-01-05 22:11:34 +0900