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Filtering by: Keyword ISO Publisher National Institute for Materials Science

電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み

Description/Abstract:

AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO TC201SCAの設立が２つの大きな転換点といえる。前者では，個々人の定量研究から国際共同研究を通して，定量の信頼性や正確性・遡及...

Keyword:

ISO, 国際標準化, 標準化の意味, 標準化の歴史, and 表面定量分析

Resource Type:

Presentation

Author:

田沼繁夫

Date Uploaded:

26/06/2023