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Filtering by: Author Ogiwara, Toshiya Language Japanese Resource type Article Material/Specimen InP/GaInAs Multilayer

Description/Abstract:: AES深さ方向分析の標準化を進めるために，InP/GaInAs多層膜を用いたデプスプロファイル測定のラウンドロビン試験を行った．参加した２３機関の装置は３社に分類され，その仕様が異なるため，測定条件は電子線およびイオンの加速電圧を3kVに固定して，その他の条件は各機関に一任...
Keyword:: Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAs Specimen, and Round Robin Test
Material/Specimen:: InP/GaInAs Multilayer
Resource Type:: Article
Author:: Ogiwara, Toshiya and Tanuma, Shigeo
Journal:: Journal of Surface Analysis
Date Uploaded:: 29/07/2021
Date Modified:: 02/08/2021

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