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一般社団法人 表面分析研究会
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表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? VI. 元素における双極子行列要素平方の計算とPenn algorithmによるIMFPの計算
オージェ電子分光法における背面散乱補正 I.広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発
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Auger electron spectroscopy
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IMFP
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Modified Bethe equation
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Japanese
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Publisher
一般社団法人 表面分析研究会
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Resource type
Article
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Visibility
open
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Rights Statement Sim
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International
2
Author
田沼 繁夫
1
田沼繁夫
1
篠塚寛志
1
Journal
JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS
1
Journal of Surface Analysis
1