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キーワード: force spectroscopy
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supplementary_data.pdf
Exploring partially reduced CeO 2(111) surface at the atomic scale using scanning probe microscopy
論文
著者
Kyungmin Kim ORCID ; Masayuki Abe ORCID ; Shigeki Kawai SAMURAI ORCID ; Oscar Custance SAMURAI ORCID
キーワード
Metal oxide surface, ceria, scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy;, force spectroscopy, Ce3+
刊行年月日
2025-12-31
更新時刻
2025-08-19 12:30:24 +0900

キーワード
  • Ce3+ (1)
  • Metal oxide surface (1)
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