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Ce3+ (1)
Metal oxide surface (1)
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キーワード: atomic force microscopy;
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1 件のレコードが見つかりました。
Exploring partially reduced CeO 2(111) surface at the atomic scale using scanning probe microscopy
論文
著者
Kyungmin Kim
;
Masayuki Abe
;
Shigeki Kawai
;
Oscar Custance
キーワード
Metal oxide surface
,
ceria
,
scanning tunneling microscopy
,
atomic force microscopy;
,
force spectroscopy
,
Ce3+
刊行年月日
2025-12-31
更新時刻
2025-08-19 12:30:24 +0900
キーワード
Ce3+
(1)
Metal oxide surface
(1)
atomic force microscopy;
(1)
ceria
(1)
force spectroscopy
(1)
scanning tunneling microscopy
(1)
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