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Rapid measurement of low-order aberrations using Fourier transforms of crystalline Ronchigrams
- 論文
- 著者
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Koji Kimoto
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Kazuo Ishizuka
- キーワード
- STEM, alignment, Ronchigram, Aberration
- 刊行年月日
- 2017-03-18
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:14 +0900