電子分光法における表面感度と検出深さ

ジャーナル論文

著者

田沼 繁夫 (author) (この著者で検索)

https://orcid.org/0000-0003-2628-9941

物質・材料研究機構 統合型材料開発・情報基盤部門/材料データプラットフォームセンター/データサービスチーム

NIMS Researchers Directory SAMURAI

田沼 繁夫

キーワード

surface sensitivity, mean escape depth, effective attenuation length, information depth, inelastic mean free path

刊行年月日

2022-03-10

更新時刻

2024-01-05 22:12:47 +0900