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Auger depth profiling analysis (8)
Ultra low angle incidence ion beam (8)
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マテリアル・インフォマティクス (2)
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ライセンス
In Copyright (9)
Creative Commons BY-NC-ND Attribution-NonCommercial-NoDerivs 4.0 International (4)
Creative Commons BY Attribution 4.0 International (1)
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International (1)
ファイル種別
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application/zip (8)
application/octet-stream (1)
22 件のレコードが見つかりました。 21件目から22件目まで表示します。
Calculations of Electron Inelastic Mean Free Paths. XI. Data for Liquid Water for Energies from 50 eV to 30 keV
ジャーナル論文
著者
Shinotsuka, Hiroshi
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0001-5147-1396
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Shinotsuka, Hiroshi
;
Da, Bo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-0785-8662
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Da, Bo
;
Tanuma, Shigeo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tanuma, Shigeo
;
Yoshikawa, Hideki
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-7389-8865
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Yoshikawa, Hideki
;
Powell , Cedric J
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0001-8990-2286
(unauthenticated)
Powell , Cedric J
;
Penn, David R
(author) (
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)
Penn, David R
キーワード
effective attenuation length
,
liquid water
,
relativistic full Penn algorithm
,
relativistic TPP-2M
,
IMFP
,
static structure factor
,
Electron Inelastic Mean Free Path
,
EAL
刊行年月日
2016-08-30
更新時刻
2024-01-05 22:13:02 +0900
Automated information compression of XPS spectrum using information criteria
ジャーナル論文
著者
Tanaka, Hiromi
(author) (
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)
Tanaka, Hiromi
;
Yoshikawa, Hideki
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-7389-8865
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Yoshikawa, Hideki
;
Yoshihara, Kazuhiro
(author) (
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)
Yoshihara, Kazuhiro
;
Nakamura, Kazuki
(author) (
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)
Nakamura, Kazuki
;
Murakami, Ryo
(author) (
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)
Murakami, Ryo
;
Shinotsuka, Hiroshi
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0001-5147-1396
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Shinotsuka, Hiroshi
キーワード
Active Shirley method
,
Akaike information criterion (AIC)
,
Bayesian information criterion (BIC)
,
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
刊行年月日
2019-12-03
更新時刻
2024-01-05 22:12:40 +0900
キーワード
HfO2/Si
(10)
Auger depth profiling analysis
(8)
Ultra low angle incidence ion beam
(8)
Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
(3)
Auger Depth Profiling Analysis
(2)
IMFP
(2)
IoT
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liquid water
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データフロー
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マテリアル・インフォマティクス
(2)
研究データ
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Active Shirley method
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Akaike information criterion (AIC)
(1)
Auger Depth Profiling analysis
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Automatic spectrum analysis
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Bayesian information criterion
(1)
Bayesian information criterion (BIC)
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DICE
(1)
EAL
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Electron Inelastic Mean Free Path
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FAIR
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FlashAir
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MED
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Mg-Ge alloy
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Multiple core level spectra
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Wi-Fi
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X-ray photoelectron spectroscopy
(1)
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
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XML スキーマ
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ZAF
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asymmetry parameter
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compound semiconductor
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data transfer
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effective attenuation length
(1)
electron probe microanalyzer
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energy loss function
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first-principles calculation
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high-energy photoelectron spectroscopy
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lnearly polarized X-rays
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mass absorption coefficient
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mean escape depth
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optical constant
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relativistic TPP-2M
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relativistic full Penn algorithm
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Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International (1)
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