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58 件のレコードが見つかりました。

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Dataset
SuperCon RDF Ver.1.2
データセット
コレクション
SuperCon Knowledge Collection
著者
Masashi Ishii (editor) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
キーワード
SuperCon, Superconductors, RDF, Ontology, Semantic Web, SPARQL
刊行年月日
更新時刻
2024-08-29 20:03:44 +0900
データセット
International XAFS DB RDF and Ontology
データセット
著者
Masashi Ishii (author) (この著者で検索)
NIMS Center for Basic Research on Materials
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Koichi Sakamoto (author) (この著者で検索)
NIMS Center for Basic Research on Materials
;
Shohei Yamashita (author) (この著者で検索)
KEK Institute of Materials Structure Science
;
Yasuhiro Niwa (author) (この著者で検索)
KEK Institute of Materials Structure Science
ORCID ;
Yasuhiro Inada (author) (この著者で検索)
Ritsumeikan University College of Life Sciences
ORCID
キーワード
International XAFS DB portal, Cross-database search, Terminology, Ontology, Semantics, RDF
刊行年月日
2025-05-01
更新時刻
2025-07-01 12:30:26 +0900
Dataset
SuperCon RDF Ver. 1.1
データセット
コレクション
SuperCon Knowledge Collection
著者
Masashi Ishii (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science (NIMS) Center for Basic Research on Materials
ORCID SAMURAI
キーワード
SuperCon, RDF, Semantic web, Ontology, Super conductor
刊行年月日
2023-12-31
更新時刻
2024-01-05 22:12:58 +0900
Dataset
Examples of SQS (special quasirandom structure) models for arbitrary binary bcc (body centered cubic) and hcp (hexagonal close packed) structures
データセット
著者
ORCID SAMURAI
キーワード
Sommerfeld model, quasi-harmonic vibrational contribution, First-principles calculation, Debye model, titanium alloys
刊行年月日
2020-10-15
更新時刻
2024-01-05 22:12:16 +0900
Dataset
Electrodeposited copper film data
データセット
著者
Ryo Tamura (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
;
Ryuichi Inaba (author) (この著者で検索)
Mitsubishi Materials Corporation
;
Mami Watanabe (author) (この著者で検索)
Mitsubishi Materials Corporation
;
Yutaro Mori (author) (この著者で検索)
Mitsubishi Materials Corporation
;
Makoto Urushihara (author) (この著者で検索)
Mitsubishi Materials Corporation
;
Kenji Yamaguchi (author) (この著者で検索)
Mitsubishi Materials Corporation
;
Shoichi Matsuda (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
キーワード
Electrodeposition, copper film
刊行年月日
更新時刻
2024-10-30 16:30:48 +0900
HfO2-Fig6-Work-20230118.pdf
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:25 +0900
HfO2-Fig7-Work-20221213.pdf
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:25 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
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