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Creative Commons BY-NC-ND Attribution-NonCommercial-NoDerivs 4.0 International (1)
ファイル種別
application/pdf (2)
ファイル種別: application/pdf
キーワード: atomic force microscope
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2 件のレコードが見つかりました。
Approaching the Intrinsic Properties of Moiré Structures Using Atomic Force Microscopy Ironing
ジャーナル論文
著者
Swaroop Kumar Palai
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Swaroop Kumar Palai
;
Mateusz Dyksik
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Mateusz Dyksik
;
Nikodem Sokolowski
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Nikodem Sokolowski
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Mariusz Ciorga
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Mariusz Ciorga
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Estrella Sánchez Viso
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Estrella Sánchez Viso
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Yong Xie
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Yong Xie
;
Alina Schubert
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Alina Schubert
;
Takashi Taniguchi
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https://orcid.org/0000-0002-1467-3105
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Takashi Taniguchi
;
Kenji Watanabe
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https://orcid.org/0000-0003-3701-8119
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Kenji Watanabe
;
Duncan K. Maude
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Duncan K. Maude
;
Alessandro Surrente
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Alessandro Surrente
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Michał Baranowski
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Michał Baranowski
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Andres Castellanos-Gomez
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Andres Castellanos-Gomez
;
Carmen Munuera
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Carmen Munuera
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Paulina Plochocka
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Paulina Plochocka
キーワード
Transition metal dichalcogenides
,
moiré pattern
,
atomic force microscope
刊行年月日
2023-06-14
更新時刻
2025-02-15 12:30:13 +0900
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy, Quantitative Evaluation of the Surface Roughness Caused by Ion Sputtering
ジャーナル論文
著者
OGIWARA, Toshiya
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https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
NIMS Researchers Directory SAMURAI
OGIWARA, Toshiya
;
TANUMA, Shigeo
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)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
TANUMA, Shigeo
キーワード
depth resolution function
,
InP/GaInAsP multilayer specimens
,
Auger depth profiling analysis
,
surface roughness
,
atomic force microscope
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:24:02 +0900
キーワード
atomic force microscope
(2)
Auger depth profiling analysis
(1)
InP/GaInAsP multilayer specimens
(1)
Transition metal dichalcogenides
(1)
depth resolution function
(1)
moiré pattern
(1)
surface roughness
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
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