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Robust Preparation of Sub‐20‐nm‐Thin Lamellae for Aberration‐Corrected Electron Microscopy
- 論文
- 著者
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Hideyo Tsurusawa
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Jun Uzuhashi
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Yusuke Kozuka
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Koji Kimoto
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Tadakatsu Ohkubo
- キーワード
- TEM, FIB, Automation
- 刊行年月日
- 2024-02-22
- 更新時刻
- 2024-05-03 08:30:11 +0900
In-depth S/TEM observation of Ti–Hf and Ta–Hf-doped Nb3Sn layers
- 論文
- 著者
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Nobuya Banno
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Taku Moronaga
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Toru Hara
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Koki Asai
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Tsuyoshi Yagai
- キーワード
- Nb3Sn, Hf doping, ACOM-TEM, TEM, grain growth
- 刊行年月日
- 2024-03-01
- 更新時刻
- 2025-02-14 12:31:24 +0900