ファイル種別: application/pdf 資源タイプ: journal_article キーワード: ISO
全ての絞り込みを解除

1 件のレコードが見つかりました。

Summary_of_ISO18118-2.pdf
Summary of ISO/TC 201 Standard: XX ISO 18118: 2004 — Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy —Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
論文
著者
TANUMA, Shigeo SAMURAI ORCID
キーワード
XPS, quantitative surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, relative sensitivity factor, ISO, International Organization for Standardization, AES
刊行年月日
2005-12-28
更新時刻
2024-01-05 22:11:34 +0900