35 件のレコードが見つかりました。
Designing a Unified Data Structure for Solid-Electrolyte Research Projects
- データセット
- 著者
-
Yasuhiro Fujiwara
;
Masahiko Demura
;
Kazunori Takada
;
Kota Suzuki
;
Satoshi Hori
;
Masaki Azuma
;
Ryoji Kanno
;
Yoshiyuki Inaguma
;
Akitoshi Hayashi
;
Yasutoshi Iriyama
;
Hirotoshi Yamada
;
Tetsuhiro Katsumata
- キーワード
- solid electrolytes, process chain, data structure, data model, data management, Research Data Express, RDE
- 刊行年月日
- 2025-12-31
- 更新時刻
- 2025-12-19 08:30:30 +0900
Quantifying the Thresholds of the Phospholipid Surface Density for Nonspecific Protein Adsorption and Desorption at the Triacylglycerol/Water Interface
- データセット
- 著者
-
Chiho Kataoka-Hamai
- キーワード
- Lipid droplets, triacylglycerol, oil/water interface, protein
- 刊行年月日
- 2025-09-23
- 更新時刻
- 2025-09-24 16:30:26 +0900
Supplemental data to 'A unified model for metallic materials reliability data and its application in NIMS Metallic Materials Database (Kinzoku)'
- データセット
- 著者
-
Asahiko Matsuda
;
Masahiko Demura
;
Masayoshi Yamazaki
;
Takuya Kadohira
;
Toshihiro Ashino
;
Yoshiyuki Furuya
;
Kota Sawada
;
Nobutaka Nishikawa
- キーワード
- metallic materials, structural materials, database, data format, data model, creep, fatigue
- 刊行年月日
- 2025-12-31
- 更新時刻
- 2025-08-01 08:55:21 +0900
Effect of Bidentate Ligand Additive in Tin Perovskite Solar Cells
- データセット
- 著者
-
Dhruba B. Khadka
;
Yasuhiro Shirai
;
Masatoshi Yanagida
;
Kenjiro Miyano
- キーワード
- Sn-perovskite, Sn-oxidation, bidentate ligand, Stability, Device
- 刊行年月日
- 2023-06-11
- 更新時刻
- 2024-09-17 16:30:25 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-04-07 22:57:41 +0900
SuperCon RDF Ver. 1.1
- データセット
- コレクション
- SuperCon Knowledge Collection
- 著者
-
Masashi Ishii
- キーワード
- SuperCon, RDF, Semantic web, Ontology, Super conductor
- 刊行年月日
- 2023-12-31
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:58 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900