ファイル種別: application/pdf キーワード: Auger Depth Profiling Analysis
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JSA_Vol18_No3_174.pdf
High-Sensitivity and High-Depth Resolution Auger Depth Profiling Using an Inclined Holder based on Geometric Characteristics of Auger Electron Spectroscopy Apparatus Equipped with Concentric Hemispherical Analyzer
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Kim, Kyung Joong (author) (この著者で検索)
ORCID ;
Nagatomi, Takaharu (author) (この著者で検索)
ORCID
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, Si/Ge multiple delta-doped layers, GaAs/AlAs Superlattice, Inclined Holder
刊行年月日
2016-04-03
更新時刻
2024-01-05 22:13:47 +0900
Vol.25_No.3_2019.pdf
English Translation of J. Surf. Anal. 24, 192-205(2018), Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, HfO2/Si, Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
刊行年月日
2020-06-04
更新時刻
2022-10-03 01:48:14 +0900
JSA_Vol25_14-20.pdf
Auger Depth Profiling Analysis of FeNi/CoFeB/FeNi Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
Yanagiuchi, Katsuaki (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI
キーワード
Ultra Low Angle Incidence Ion Beam, FeNi/CoFeB/FeNi Thin Film, Auger Depth Profiling Analysis
刊行年月日
2019-03-31
更新時刻
2024-01-05 22:13:23 +0900
表面科学_13_1992_472.pdf
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy. Effects of Zalar Rotation and Liquid Nitrogen Cold Stage
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Nagasawa, Yuji (author) (この著者で検索)
;
Ikeo, Nobuyuki (author) (この著者で検索)
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayers, Zalar Rotation Method, Sample Cooling Method
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:53:08 +0900
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