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Auger Depth Profiling Analysis (3)
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キーワード: Auger Depth Profiling Analysis
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Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy. Effects of Zalar Rotation and Liquid Nitrogen Cold Stage
ジャーナル論文
著者
Ogiwara, Toshiya
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Ogiwara, Toshiya
;
Tanuma, Shigeo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tanuma, Shigeo
;
Nagasawa, Yuji
(author) (
この著者で検索
)
Nagasawa, Yuji
;
Ikeo, Nobuyuki
(author) (
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)
Ikeo, Nobuyuki
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis
,
InP/GaInAsP Multilayers
,
Zalar Rotation Method
,
Sample Cooling Method
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:53:08 +0900
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayer Structure with Auger Electron Spectroscopy by Using Argon Ion Spot Beam
ジャーナル論文
著者
OGIWARA, Toshiya
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)
https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
NIMS Researchers Directory SAMURAI
OGIWARA, Toshiya
;
HARADA, Tomoko
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)
HARADA, Tomoko
;
TANUMA, Shigeo
(author) (
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https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
TANUMA, Shigeo
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis
,
InP/GaInAsP Multilayer Specimen
,
Argon Ion Spot Beam
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 02:04:45 +0900
High-Sensitivity and High-Depth Resolution Auger Depth Profiling Using an Inclined Holder based on Geometric Characteristics of Auger Electron Spectroscopy Apparatus Equipped with Concentric Hemispherical Analyzer
ジャーナル論文
著者
Tanuma, Shigeo
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tanuma, Shigeo
;
Ogiwara, Toshiya
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Ogiwara, Toshiya
;
Kim, Kyung Joong
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0001-5559-9784
(unauthenticated)
Kim, Kyung Joong
;
Nagatomi, Takaharu
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-3629-638X
(unauthenticated)
Nagatomi, Takaharu
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis
,
Si/Ge multiple delta-doped layers
,
GaAs/AlAs Superlattice
,
Inclined Holder
刊行年月日
2016-04-03
更新時刻
2024-01-05 22:13:47 +0900
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis
(3)
Argon Ion Spot Beam
(1)
GaAs/AlAs Superlattice
(1)
InP/GaInAsP Multilayer Specimen
(1)
InP/GaInAsP Multilayers
(1)
Inclined Holder
(1)
Sample Cooling Method
(1)
Si/Ge multiple delta-doped layers
(1)
Zalar Rotation Method
(1)
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Auger Depth Profiling Analysis (3)
Argon Ion Spot Beam (1)
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InP/GaInAsP Multilayer Specimen (1)
InP/GaInAsP Multilayers (1)
Inclined Holder (1)
Sample Cooling Method (1)
Si/Ge multiple delta-doped layers (1)
Zalar Rotation Method (1)
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ライセンス
In Copyright (1)
ファイル種別
application/pdf (3)