37 件のレコードが見つかりました。
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:38 +0900
Sample data for X-ray visualization of local bending of the lattice planes (XR-V-LBLP)
- データセット
- 著者
-
YAGYU, Shinjiro (curator) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- X-ray diffraction topography
- 刊行年月日
- 2023-03-27
- 更新時刻
- 2023-03-27 16:02:33 +0900
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:25 +0900
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:25 +0900
Raw data files for Fig. 8 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:29 +0900
CPDDB
- データセット
- コレクション
- CPDDB
- 著者
-
ABE, Taichi (author) (この著者で検索)
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HASHIMOTO, Kiyoshi (author) (この著者で検索)
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;GOTO, Yumi (author) (この著者で検索);SAWADA, Yukiko (author) (この著者で検索)HIROSE, Kiyomi (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Computational thermodynamics, Phase diagram, CALPHAD
- 刊行年月日
- 2007-04-01
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:50:26 +0900
Digital-CPDDB
- データセット
- コレクション
- CPDDB
- 著者
-
ABE, Taichi (author) (この著者で検索)
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HASHIMOTO, Kiyoshi (author) (この著者で検索)
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;GOTO, Yumi (author) (この著者で検索);SAWADA, Yukiko (author) (この著者で検索)HIROSE, Kiyomi (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Computational thermodynamics, Phase diagram, CALPHAD
- 刊行年月日
- 2021-08-05
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:27:00 +0900
Application of eSciDoc in eResearch Environment in Science and Technology
- データセット
- 著者
-
DREYER, Malte (author) (この著者で検索)
- キーワード
- 刊行年月日
- 2011-10-13
- 更新時刻
- 2024-05-01 16:29:07 +0900