ファイル種別: application/pdf キーワード: Zalar Rotation Method
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表面科学_13_1992_472.pdf
Depth Profiling Analysis of InP/GaInAsP Multilayers by Auger Electron Spectroscopy. Effects of Zalar Rotation and Liquid Nitrogen Cold Stage
論文
著者
Ogiwara, Toshiya SAMURAI ORCID ; Tanuma, Shigeo SAMURAI ORCID ; Nagasawa, Yuji ; Ikeo, Nobuyuki
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, InP/GaInAsP Multilayers, Zalar Rotation Method, Sample Cooling Method
刊行年月日
2011-06-10
更新時刻
2022-10-03 01:53:08 +0900