MDRについて
ヘルプ
お問い合わせ
Switch language
日本語
English
ログイン
ログイン
Search MDR
Home
論文・データセット
コレクション
資源タイプ
ジャーナル論文(1)
ソフトウェア(1)
キーワード
4DSTEM (2)
Wigner distribution deconvolution (1)
aberration correction (1)
electron microscopy (1)
electron ptychography (1)
phase retrieval (1)
ptychography (1)
(more)
ライセンス
http://opensource.org/licenses/MIT (1)
In Copyright (1)
ファイル種別
application/octet-stream (1)
application/pdf (1)
image/tiff (1)
text/troff (1)
計測法
走査透過電子顕微鏡 (1)
キーワード: 4DSTEM
全ての絞り込みを解除
2 件のレコードが見つかりました。
4D STEM計測とタイコグラフィー
ジャーナル論文
著者
三石 和貴
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-9361-4057
物質・材料研究機構 マテリアル基盤研究センター
NIMS Researchers Directory SAMURAI
三石 和貴
;
中澤 克昭
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-6056-5615
物質・材料研究機構 若手国際研究センター
NIMS Researchers Directory SAMURAI
中澤 克昭
キーワード
4DSTEM
,
electron ptychography
,
phase retrieval
刊行年月日
[2025年5月]
更新時刻
2025-12-25 15:51:02 +0900
Ptychographical reconstruction code by Wigner Distribution Deconvolution (WDD)
ソフトウェア
著者
Nakazawa Katsuaki
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-6056-5615
National Institute for Materials Science ICYS
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Nakazawa Katsuaki
;
Mitsuishi Kazutaka
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-9361-4057
National Institute for Materials Science Research Center for Advanced Measurement and Characterization
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Mitsuishi Kazutaka
キーワード
ptychography
,
4DSTEM
,
electron microscopy
,
Wigner distribution deconvolution
,
aberration correction
刊行年月日
2022-11-30
更新時刻
2023-02-03 17:43:11 +0900
キーワード
4DSTEM
(2)
Wigner distribution deconvolution
(1)
aberration correction
(1)
electron microscopy
(1)
electron ptychography
(1)
phase retrieval
(1)
ptychography
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
<
1
>