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コレクション

引用

説明:

高速ピクセル型検出器の実用化によって近年大きく発展している４DSTEM計測とタイコグラ フィーについて、最近の応用について紹介する

権利情報:

• In Copyright
  

キーワード: 4DSTEM, electron ptychography, phase retrieval

刊行年月日: [2025年5月]

出版者: 公益社団法人　日本セラミックス協会

掲載誌:

• セラミックス (ISSN: 0009031X) vol. 60 issue. 5 p. 346-349

研究助成金:

• JST 24K15598

原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.6074

公開URL: https://member.ceramic.or.jp/journal/vol_no/60/05/60_05.html

関連資料:

その他の識別子:

連絡先:

更新時刻: 2025-12-25 15:51:02 +0900

MDRでの公開時刻: 2025-12-26 08:19:20 +0900