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高速ピクセル型検出器の実用化によって近年大きく発展している４DSTEM計測とタイコグラ フィーについて、最近の応用について紹介する

Rights:

• In Copyright
  

Keyword: 4DSTEM, electron ptychography, phase retrieval

Date published: [2025年5月]

Publisher: 公益社団法人　日本セラミックス協会

Journal:

• セラミックス (ISSN: 0009031X) vol. 60 issue. 5 p. 346-349

Funding:

• JST 24K15598

Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.6074

First published URL: https://member.ceramic.or.jp/journal/vol_no/60/05/60_05.html

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Updated at: 2025-12-25 15:51:02 +0900

Published on MDR: 2025-12-26 08:19:20 +0900