オージェ電子分光法における背面散乱補正　I．広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発

Journal article

Creator

田沼 繁夫 (author) (Search by this author)

https://orcid.org/0000-0003-2628-9941

分析支援ステーション, 物質・材料研究機構

NIMS Researchers Directory SAMURAI

田沼 繁夫

Keyword

Auger electron spectroscopy, AES, electron backscattering correction, predictive formula for back scattering correction

Date published

2018-10-19

Updated at

2024-01-05 22:13:01 +0900