X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析

Journal article

Creator

佐々木 宏和 (author) (Search by this author)

古河電気工業株式会社

佐々木 宏和 ;

秋谷 俊太 (author) (Search by this author)

古河電気工業株式会社

秋谷 俊太 ;

三原 邦照 (author) (Search by this author)

古河電気工業株式会社

三原 邦照 ;

大場 洋次郎 (author) (Search by this author)

豊橋技術科学大学

大場 洋次郎 ;

大沼 正人 (author) (Search by this author)

北海道大学

大沼 正人 ;

埋橋 淳 (author) (Search by this author)

https://orcid.org/0000-0003-2023-8158

物質・材料研究機構

NIMS Researchers Directory SAMURAI

埋橋 淳 ;

大久保 忠勝 (author) (Search by this author)

https://orcid.org/0000-0003-3548-1951

物質・材料研究機構

NIMS Researchers Directory SAMURAI

大久保 忠勝

Keyword

atom probe tomography, transmission electron microscopy, Corson alloy

Date published

Updated at

2024-01-30 09:51:05 +0900